IC豫商会
湾区电子行业资源交互平台
商会活动
商会概况
豫商新闻
赞助商
会员
商机
商城
主题
自然绿
商务紫
活力橙
登录
返回文章列表
封装测试
先进封装检测:从2D到3D的全面检测方案
李思颖
2026/1/18
107 阅读
先进封装的3D结构对检测技术提出新要求,X射线、红外热成像等成为必备检测手段。
检测技术对比
国产设备
瑞淀光学:3D AOI已量产
正业科技:X射线检测设备
思泰克:SPI+AOI一体化
上一篇:硅光子陀螺仪:MEMS陀螺仪的终结者?
文章列表
下一篇:半导体人才争夺战:中国如何留住顶尖人才?
相关文章
封装测试
Chiplet技术趋势:摩尔定律的延续者
2026/4/22
封装测试
硅光子技术:光互连时代的到来
2026/3/28
封装测试
扇出型封装(Fan-Out):从移动端到AI芯片
2026/3/15