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国产光刻机进展:从90nm到28nm的跨越

张明远2026/4/1654 阅读
国产光刻机进展:从90nm到28nm的跨越

上海微电子等国产光刻机厂商在多重曝光技术上取得突破,28nm光刻机进入验证阶段。

技术突破

通过多重曝光技术(Multi-Patterning),国产光刻机可实现28nm制程所需的线宽精度。

产业链协同

挑战

  • 良率仍需提升
  • 可靠性待验证
  • 先进制程仍需时日